PUBLICATIONS
-
arXiv:1902.06924
Anomaly Detection with Adversarial Dual Autoencoders
BLOG
-
社内勉強会報告:Transformer最新動向
NEWS
-
NIST(米国国立標準技術研究所)の顔認証ベンチマークテストで世界1位の評価を獲得
前野 一樹
パナソニック コネクト社
ディープラーニングを用いた顔認識技術の研究開発、ソリューション開発に従事。海外研と連携し、最先端CV技術の顔認証への応用に取り組む一方、社会実装の現場でセンシング条件の最適化等にも取り組むオールラウンダー。 専門領域は、コンピュータビジョン、ディープラーニング。
Anomaly Detection with Adversarial Dual Autoencoders
社内勉強会報告:Transformer最新動向
NIST(米国国立標準技術研究所)の顔認証ベンチマークテストで世界1位の評価を獲得